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富士通研究所、LSI内の電源変動をリアルタイム観測する技術を開発」記事へのコメント

  • by sameshima (10060) on 2007年02月14日 20時36分 (#1110150) 日記
    入力部分に前回のサンプル値との比較回路をつけて、
    前サンプル値との差が、ある程度以上になったら現在時刻と電圧を
    記録することで、計測データ量を減らす方法だと思います。
    この方法は20~年前にメモリが高価だった頃に半導体テスタや
    ロジックアナライザのデジタルもので少ないメモリで長時間記録を
    する場合(データ変化が少ないことが条件)に採用されてましたが、
    特許が切れて使えるようになったのか、対象が違うからそもそも
    問題ないんですかね?
    • フローというか手法的には似ているもののようですが、
      今回の発表の肝はどうやら「電源電圧変動センサーの開発」にあるようです。

      センサーを開発してチップに適用しました、というのが発表の流れのようです。

      この「電源電圧変動センサー」なるものがどうすごいのかは、
      ISSCCの発表を聞けばわかると言うことなのでしょう。たぶん。

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