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富士通研究所、LSI内の電源変動をリアルタイム観測する技術を開発」記事へのコメント

  • by power (11625) on 2007年02月15日 13時41分 (#1110449) 日記
    LSIにおける電源の安定度を高くする、ということを最終目標にしていると考えた場合、電源の安定度が高くなった結果として(該当LSIが)ノイズに対して強くなる、という気がします。
    実際のところLSIで自身の放射ノイズが多いものや、ノイズに対する耐性が弱いものなどは、電源/GNDの弱いものが多いです。
    この辺のメカニズム含めて実証できれば、論文一つ書けるんじゃないですかね。
    今回の技術は、そのための布石なのかも知れません。

計算機科学者とは、壊れていないものを修理する人々のことである

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