新聞などの記事では『時間とともに劣化する』というような表現になっているが、実際は『起動後(電源投入後)、徐々に性能が低下する』といったところじゃないの?(シリコン・デバイスそのものが永久的に変質・劣化するわけじゃない) 元のIntelのプレス・リリースの表現も『degrade over time』となってるけど、もうちょっと素人向けに丁寧に説明した方が良いと思うが.......
http://www.anandtech.com/show/4142/ [anandtech.com] Intel expects that over 3 years of use it would see a failure rate of approximately 5 - 15% depending on usage model.
http://www.anandtech.com/show/4143 [anandtech.com] The problem in the chipset was traced back to a transistor in the 3Gbps PLL clocking tree. The aforementioned transistor has a very thin gate oxide, which allows you to turn it on with a very low voltage. Unfortunately in this case Intel biased the transistor with too high of a voltage, resulting in higher than expected leakage current. D
時間とともに劣化する? (スコア:1, 参考になる)
元のIntelのプレス・リリースの表現も『degrade over time』となってるけど、もうちょっと素人向けに丁寧に説明した方が良いと思うが.......
壊れるらしい (スコア:3, 参考になる)
>シリコン・デバイスそのものが永久的に変質・劣化するわけじゃない
AnandTechの記事からすると、長期的な使用で壊れるらしい。
http://www.anandtech.com/show/4142/ [anandtech.com]
Intel expects that over 3 years of use it would see a failure rate of approximately 5 - 15% depending on usage model.
熱設計ミスったか、配線設計がタイトすぎたか、その辺なのかねぇ。
Re: (スコア:0)
微妙なタイミング設計の問題で、例えば希にメタステーブルが発生して動作不良につながるようなことを想像したが
#メタステーブルはあくまでも例えです(それほど単純なミスじゃないと思う)
Re: (スコア:5, 参考になる)
>3年間長期使用した場合に不良が一度でも発現する割合が5%~15%ってことじゃないの?
と言うわけでも無いっぽい.
Anandの続報(続き?)によれば,
http://www.anandtech.com/show/4143 [anandtech.com]
The problem in the chipset was traced back to a transistor in the 3Gbps PLL clocking tree. The aforementioned transistor has a very thin gate oxide, which allows you to turn it on with a very low voltage. Unfortunately in this case Intel biased the transistor with too high of a voltage, resulting in higher than expected leakage current. D
Re:壊れるらしい (スコア:2, 興味深い)
PLL+耐圧の間違い+リークという話から適当に推測してみる。
※証拠なしの適当な推測です。確率1%ぐらいと思って読んでください。
シリアル通信用のPLLはとても高い周波数で動く上に低ジッタにする必要があるので、ロジック用よりも高い電源電圧を使う。そこに使うMOSは高い耐圧のもの。
PLLの中でリークが致命的な部分というと、ループフィルタの容量。
ループフィルタには大きな容量が必要なので、できればゲート絶縁膜の薄い(容量の大きい)、低耐圧のMOSを使いたい。
そこで設計をうまく工夫して、高い電源電圧でもループフィルタに高い電圧がかからないようにして、低耐圧のMOSを使うことがある。
うまく設計したつもりでも、特定の条件で高い電圧がかかる状態になってしまったとか。
検証でもれたか、うっかり確認ミスかでそのまま量産されたが、加速劣化試験で問題が発覚した?
ちなみにPLLのループフィルタにリーク電流があると、PLLのジッタが増えて通信エラーが増えます。
最悪通信できなくなる。