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高高度核爆発実験「スターフィッシュ・プライム」から50年」記事へのコメント

  • by Anonymous Coward on 2012年07月11日 19時58分 (#2191587)

    こういう話聞くたびに思うんですが、最近の家電なら、案外EMPにも耐えるんじゃないかな~、とか思います。
    EMP耐性の試験なんて、家電はやりませんが、ESD耐性の試験をメーカーが、ほぼ必ずやります。

    EMPとESDは違いますが、ESDで破壊しなければ、EMPでも案外大丈夫なんじゃないかな~~?とか思ったりします。
    ESDガン試験の場合、ESDガンでギャップ放電やれば、放電箇所からEMPが放射されてるでしょうからね。

    中に入っている半導体も、それぞれ部品メーカーがESD試験していますし、半導体の入出力には耐ESD用の保護素子が入ってます。

    というわけで、EMP食らっても、一時的におかしくなるだけで、電源切って入れなおせば案外動くんじゃないかな~とか思ったりします。

    • by Anonymous Coward on 2012年07月11日 23時21分 (#2191692)

      雷サージ試験が恐らくEMPに似たような試験をやるのですがESD耐性があってもかなりの率で壊れますね。

      誘導雷で与えられるエネルギーはESDからすると非常に大きいので、ESD対策部品は吹き飛びます。
      (一時的にGNDや電源に流すと電流の大きさから対策部品が吹き飛び、その次に接続先が高電圧で死ぬ)

      完全なシールドで進入を防ぎ、完全な絶縁で電流ループを断ち切るしかありません。
      案外、対策は難しいものですよ。

      親コメント
    • by Anonymous Coward

      チップ内とか、そんなレベルでなく、導線の長さに比例した電圧が発生したハズ。
      よって、プリント基板上の配線や、その先のケーブルなんかが元で壊れる。

      • でも半世紀前と比べると単純な半波整流回路だったのが、スイッチング電源主流になってコンデンサが林立してるし、基盤にもコンデンサがびっちし付いてるし、基盤も紙フェノールからガラスエポキシの四層基盤以上になってるし、コネクタにはポリススイッチついてるし、案外の誘導電流ぐらい吸収できそうな気もするけど。まあショットキーバリアダイオードあたりは吹き飛びそうだけど
        親コメント
      • by Anonymous Coward

        プリント基板上の配線やケーブルが焼け切れるって言ってるのか?
        そんな大電流がEMPで流れるわけないやろ。

        配線に大きな電圧が印加された場合、その先に繋がっている半導体のIOバッファがまず壊れる。
        そっちのほうが抵抗が大きいから。

        • by Anonymous Coward

          どこに電流が流れるとか、配線が焼き切れると書いてある?

          • by Anonymous Coward

            >どこに電流が流れるとか、配線が焼き切れると書いてある?

            ????
            消去法でいったらそれしかないやろ????

            半導体自体の破壊は、MM法とHBM法で、ガンじゃなくて直接印加で、ESD耐圧確かめるやろ。
            MMとHBMは、直接PADに接触させて印加なんだから配線長なんか関係ないやん。
            (配線長(導線)が長くて生じる電圧が高くても、ESD耐圧がそれ以上あれば壊れない)

            そうなると破壊するのは配線部分、と言ってるのかと思ったよ。
            配線を破壊するには、電流を流してジュール熱で焼き切る以外にないやん。

            • 何をどう消去したのかわからないけど、

              ・電磁誘導により導体があれば電圧が発生する
              ・その電圧により素子が壊れる

              ということだと思うのだけど。
              親コメント
            • by Anonymous Coward

              いや…、#2191602のことを言っているんだが。

              「導線の長さに比例した電圧」とか「ケーブルなんかが元で」というのに対して、↓だったから。

              > プリント基板上の配線やケーブルが焼け切れるって言ってるのか?
              > そんな大電流がEMPで流れるわけないやろ。

              #2191602には、ケーブルなんかに発生した「電圧」が元で、つながっているデバイスが破壊という意味のことは書いてあるが、
              「流れた大電流でケーブルが溶断」とは読めないんだが。

              それに、ESD耐圧の試験ならテスタから所定の電圧を掛けるのだから、印加される電圧は一定だけど、
              EMPは、基板に実装した上、ケーブルまでフル装備のセットを電子レンジの中に放り込んだ状態になるわけだから、
              電圧の上限なんか分からんでしょ。

              大丈夫そうと思えてしまうその自信はどこから来るの?
              もしかして、EMPの専門家?

        • by Anonymous Coward

          並みの静電気電圧くらいじゃ直ぐに壊れないよ。
          真冬にセーターのパチパチでSDカード触って壊した話は聞かない。
          つーか、電子ライタのパチパチでCMOS-IC苛めたことあるけど
          一見壊れなかった。(劣化はしているかも)

      • by Anonymous Coward

        ESDガン試験って、普通は組み立て済みの完成品の状態でやるんじゃないの?それで耐えれたんなら大丈夫じゃないの??

        • by Anonymous Coward

          そうやで。他の会社でどうしてるのか知らんけど、組立て済の状態で、筐体の外からガンでパチパチやるねん。

    • by Anonymous Coward
      電磁波だけなら良いけど、核爆発に伴う強力なガンマ線がICに照射されたら、ラッチアップ起こすんじゃないかと。
      対放射線設計されていないパワー用半導体なんかはそれでイチコロな気がします。
    • by Anonymous Coward

      人体や装置の帯電を想定したESDと同じレベルであるはずがない。
      そんなチンケなレベルでハワイが停電になったと思っているのか?

一つのことを行い、またそれをうまくやるプログラムを書け -- Malcolm Douglas McIlroy

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