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三菱電機、LSIの個体差を鍵に使った暗号化技術を開発」記事へのコメント

  • 経年劣化や過負荷で微妙に挙動が変わったりしたら別個体と認証されたりしないだろうか。
    それとも初回に一回だけIDを生成して以降は使わないんだろうか。

    • by Anonymous Coward on 2015年02月09日 16時56分 (#2758274)

      MOSトランジスタのVthバラツキに起因するタイミングのバラツキ(遅延バラツキ)を利用しているので経年変化などありません
      (経年変化が無視できないなら、そもそも経年変化でLSIそのものが正常に動作しません)
      通常の使用環境からかけ離れた低温/高温とかなら話は別かもしれませんが

      イオン注入のバラツキによるVthバラツキをLSIの固体識別に用いるアイデアは昔からあります(製品に用いられたものもある)
      もしかして既存の特許を回避するために捻って考え出したアイデア?
      #通常の回路設計では忌避される(レジスタ無しの)ヒゲを出す組み合わせ回路をわざわざ組み込んでヒゲをカウントするとは........

      親コメント
      • 単純にVthのばらつきを利用していたら、経年変化は無視できないですよ。
        デジタル回路よりサイズの大きいオペアンプやコンパレータの入力オフセットも、経年変化まで保証している物は希です。

        ざっとブロック図を見ただけですが、#2758259で指摘されているように、冗長性を持たせるんじゃないかと思います。
        大きなビット幅で、大量のデータを処理できる構成なので、そこを利用するんじゃないかと。
        回路の原理は昔からあるものですが、その辺りの実用化のための処理に新規要素があるのかもしれません。

        親コメント
    • by Anonymous Coward

      「固有ID」の作り方は分からないが、
      システムとして用意されたユニークIDがあるのでは。
      シリアルナンバーとか。

      そうして作る「固有ID」が変化するほど劣化したら、CPUそのものが劣化してることだろう。

    • by Anonymous Coward

      IDは回路各部の伝搬遅延値を並べてからハッシュして出すんだけど、
      経年劣化でIDが変わらない程度に「粗い」ハッシュを使う。

    • by Anonymous Coward

      一回過熱して特性が変わった場合は、回路としては生きていても故障の扱いでよいと思います。
      フラッシュメモリなどは使えば使うほどはっきり劣化しますが、普通のICはそうそう劣化したりしませんよ。
      流石に使用温度範囲内の温度変化による特性の変化は何等かの補正を行っているのでしょう。

計算機科学者とは、壊れていないものを修理する人々のことである

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