パスワードを忘れた? アカウント作成
この議論は賞味期限が切れたので、アーカイブ化されています。 新たにコメントを付けることはできません。

使いきり型フラッシュメモリ」記事へのコメント

  • 今時の水準だと特に安くはありませんね。

    ライトワンスとも書いてないし、コストを
    下げる要因があるとするなら、書き込み可能
    回数を下げる(テストをはしょる、構造を単純
    化して信頼性を下げる)の類なのかな?
    • メモリの選別で、今まで例えば品質10-5までを出荷していたのを、10-6を通常、5,4,(3)をこっちにすることで全体のコストを抑えているのではないでしょうか。

      # ここで4,3くらいまではとりあえず使用はできるレベルで、
      # でも壊れやすいとかそういうやつ
      --
      M-FalconSky (暑いか寒い)
      • by Anonymous Coward on 2004年03月24日 9時56分 (#519933)
        で、壊れやすいかどうかは実際壊れるまで使ってみる以外に
        検査方法はあるのか?

        アクセススピードは品質に連続的なグレードをつける
        事が出来るだろうが、寿命の長短を破壊前に検出して、
        それによって分類することができるの?
        親コメント
        • by Anonymous Coward on 2004年03月24日 10時39分 (#519970)
          メーカーではFLASHの書換テストは以下のような方法でおこないます.

          (1)1ロットすべての製品を一定回数write/read/eraseします
             その間に不良となった製品はリジェクトします
          (2)残った製品すべてを再び一定回数write/read/eraseします
             ここでの不良率が一定以下であれば,初期故障の製品は
             無くなったことになります(バスタブカーブの底に来た)
             不良率が規定値以上であれば,もう一度(2)に戻って
             やり直します. 何回か繰り返しても不良率が規定値
             以下にならない場合はロット全体が明らかな製造不良です
             からロットアウトになります.

          ここで言う不良率は(不良チップ数)÷(テスト・チップ数)です.

          偶発故障から摩耗故障にいたるまでの製品寿命は試作段階で評価
          してあるので,そのデータをもとに保証可能という考え方です.
          さらにECCも併用していますから,確率的にはメーカーの書換保証
          回数以内であればFLASHが他の半導体製品より著しく信頼性が低い
          ということはありません.
          親コメント
        • SD/CFなどに使われているFlashMemoryって、メモリの構造欠陥を許容するような作りでありませんでした。

          つまり、構造的に部分的に欠損がでるけど代替え部分と差し替えることで、欠損なしに見えるような事をコントローラーでしていて、
          製造時の不良を見えなくすることによって安くしているのでは有りませんでした?
          だから、選別出荷なんて出来るのかなーという話なんですが。
          最近は高速な物も出て来たので、変わってきたのかもしれませんが...
          親コメント

人生の大半の問題はスルー力で解決する -- スルー力研究専門家

処理中...