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エルピーダがリーク電流を低減する技術を開発」記事へのコメント

  • by Anonymous Coward
    リーク電流が欠陥結晶によるものだ、ってことは広く知られていたのでしょうか?僕が知らなかっただけ?
    • 判ってた! (スコア:1, 興味深い)

      by Anonymous Coward on 2004年12月27日 23時02分 (#671437)
      一口に結晶欠陥と言ってもいろいろなものがありますが,一般的に結晶欠陥がリークの原因となるということは昔から誰でも知ってる公知の事実です.(どんなLSIだって結晶欠陥は大敵です)
      今回の発表は,現在性能向上の制約になっているある特定の微少欠陥の発生原因とその対策が分かったということです. 詳細をライバルに明かしたくないからか,奥歯に物がはさまったような発表になってますね.(当然といえば当然ですが)
      親コメント

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