AI・IoT人材育成報告とAI時代のテスト技法紹介「スマートエスイーシンポジウム」12月10日開催

washizaki 曰く、

12月10日に早稲田大学にて、6か月間のAI・IoT×ビジネスの教育プログラム「enPiT-Pro スマートエスイー」の成果報告シンポジウムが開催されます。シンポジウムでは、スマートエスイー受講生によるAI・IoT・ビッグデータ×ビジネス等に関する修了制作の成果発表 (講演およびポスター発表)に加えて、実際に教育で取り上げている内容の一つとして、正しさの検証が難しいAI・機械学習やIoTへの適用が進む先進的なテスト技法「メタモルフィックテスティング」（Metamorphic Testing）の発明者Chen教授による講演を予定しています。

ある元のテストケースについて、入力における特定の変化に応じて出力の変化を予想できる場合に、入力を変化させて得られる新たなテストケースと元のテストケース間で成り立つ性質をメタモルフィック関係と呼びます。例えば検索エンジンであれば、検索条件をより厳しくすることで、得られる検索結果が以前の結果の部分集合となっている、といった関係です。あるいは画像認識において、元の画像にノイズを加えても判定すべき結果は同一であるという「変わらない」という関係も一例です。こういったメタモルフィック関係を利用することで既存のテストケースから新しいテストケースを大量に派生させて、対象となるプログラムを検証できます。入力に対して期待する出力がしばしば不明あるいはその準備が高コストな機械学習システム等への自動テスト技法として、このメタモルフィックテスティングは有望視され、自動運転ソフトウェアへの適用など進展しています。

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