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ナニゲにアレゲなのは、ナニゲなアレゲ -- アレゲ研究家
早期に不具合報告はいいねぇ (スコア:0)
でも、リリースして日が浅い時点での報告なので なぜもっと
販売前にもっとデバッグしなかったのかと思うのも確かです。
個人的にMSIは好きです。
Re:早期に不具合報告はいいねぇ (スコア:3, 参考になる)
ロット不良? (スコア:1, 参考になる)
「ダイパッド上の薄膜フィルムの除去が完全でなかったため」
が本当なら,ウェハー製造工程でのロット製造不良ですね.
(チップのカバー膜・保護膜のエッチング不良)
電気的にはLSIテスターでのファンクション・テストはパスして
しまって,部品実装後の動作テストでないとわからない
Re:ロット不良? (スコア:1, 参考になる)
普通は電源電流のテスト項目も有りますって、大抵の IC
テスタは普通に nA オーダー測れます(pA も少し高級機種
なら測定できます)。
ただ、測定時間がちと長めなのが問題かな。長く取らないと
正確に測れない。途中配線の容量成分のチャージが充電/放電
されて安定する必要があります。
Re:ロット不良? (スコア:1, 参考になる)
す。身近な例では、製品レベルである条件で電源を入れてスクリーニン
グした、ってこともあります。で、結局スクリーニングするためには時
間がかかる、ってのはありがちなことです。
#中には出荷されてから発覚して回収されたものもあるのでAC