新聞などの記事では『時間とともに劣化する』というような表現になっているが、実際は『起動後（電源投入後）、徐々に性能が低下する』といったところじゃないの？（シリコン・デバイスそのものが永久的に変質・劣化するわけじゃない） 元のIntelのプレス・リリースの表現も『degrade over time』となってるけど、もうちょっと素人向けに丁寧に説明した方が良いと思うが.......
http://www.anandtech.com/show/4142/ [anandtech.com] Intel expects that over 3 years of use it would see a failure rate of approximately 5 - 15% depending on usage model.
http://www.anandtech.com/show/4143 [anandtech.com] The problem in the chipset was traced back to a transistor in the 3Gbps PLL clocking tree. The aforementioned transistor has a very thin gate oxide, which allows you to turn it on with a very low voltage. Unfortunately in this case Intel biased the transistor with too high of a voltage, resulting in higher than expected leakage current. D
時間とともに劣化する？ (スコア:1, 参考になる)
元のIntelのプレス・リリースの表現も『degrade over time』となってるけど、もうちょっと素人向けに丁寧に説明した方が良いと思うが.......
壊れるらしい (スコア:3, 参考になる)
>シリコン・デバイスそのものが永久的に変質・劣化するわけじゃない
AnandTechの記事からすると、長期的な使用で壊れるらしい。
http://www.anandtech.com/show/4142/ [anandtech.com]
Intel expects that over 3 years of use it would see a failure rate of approximately 5 - 15% depending on usage model.
熱設計ミスったか、配線設計がタイトすぎたか、その辺なのかねぇ。
Re: (スコア:0)
微妙なタイミング設計の問題で、例えば希にメタステーブルが発生して動作不良につながるようなことを想像したが
#メタステーブルはあくまでも例えです（それほど単純なミスじゃないと思う）
Re: (スコア:5, 参考になる)
>３年間長期使用した場合に不良が一度でも発現する割合が5%～15%ってことじゃないの？
と言うわけでも無いっぽい．
Anandの続報(続き？)によれば，
http://www.anandtech.com/show/4143 [anandtech.com]
The problem in the chipset was traced back to a transistor in the 3Gbps PLL clocking tree. The aforementioned transistor has a very thin gate oxide, which allows you to turn it on with a very low voltage. Unfortunately in this case Intel biased the transistor with too high of a voltage, resulting in higher than expected leakage current. D
Re: (スコア:0)
そういうことですか.......
本当の問題はリーク電流よりも高電圧を印加したことによるVt（スレッショルド電圧）のシフトですね
ゲート酸化膜（最先端のデバイスは単純な酸化膜じゃないだろうけど）に電荷がトラップされたりするので
＃本当はこういうミスは様々な段階でのデザインルール・チェックで排除されなければならないんですけど（Intelらしくない）
Re:壊れるらしい (スコア:0)
だからリーク電流って事でお茶を濁したんでしょう。良く判ります。
デザインルールチェックも動的な状態のチェックって完全じゃないから、Intelさんもなかなか難しいと思いますよ。
Re:壊れるらしい (スコア:3, 興味深い)
業界から足を洗ってからずいぶんたつし，最近仕事がうまく進まずむしゃくしゃしてるので，あることないこと書いちゃうぞ！
大人の事情とは.....
・何であれ使用中にVtがシフトするような製造プロセスには欠陥があると言われかねない
・何であれ使用中にVtがシフトするようなデバイスを製造しているラインは有機物や金属イオンで汚染されているのではないかと言われかねない
・何であれ使用中にVtがシフトすることを大口顧客の品証部の怖い人達に知られたら，信頼性データを取り直せと言われかねない
というわけでよくある（？）単純なリーク電流増にしてしまって，半導体メーカ的にはVtがシフトするとは口が裂けても言うつもりはない
Re: (スコア:0)
実績が無いプロセスだとTEGでは動いても製品は思うような特性が出なくてプロセスパラメータいじりまくってやっと良品が取れるなんてこともよくある。今回がそうかは知らないが。
でも市場クレームが出る前に回収したのは良かったんじゃないの。市場クレームだと損害賠償額もハンパじゃないし。
Re:壊れるらしい (スコア:2, おもしろおかしい)
ないことが無い件。