「エルピーダがリーク電流を低減する技術を開発」記事へのコメント

メモリのリーク≠CPUのリーク

[ikuuya (14857)]

プレスリリースを見る限り、ここで言っている リークというのは、キャパシタの電荷保持の話をしているようです。
つまり、リフレッシュレート(DRAMの現在の主流は64ms)を長くしても データ保持はできますよ、という意味のようです。
対してCPUのリーク電流の話は、配線自身がキャパシタの役割をしてしまい、
配線の入力側で電位の変化があっても、その情報が配線上で中和されてしま

Re:メモリのリーク≠CPUのリーク

[Anonymous Coward]

んー、"CPUのリーク"に関しては私の理解とちょっと違いますな。
CPUの発熱源の消費電力はdynamicなもの(トランジスタがスイッチングするときに発生するもの)とstaticなもの(スイッチングしていなくても発生するもの)があって、ikuuyaさんの指摘しているのはdynamicの方ですね。
今後(今も？)問題になるのはどちらかというとstaticなものの方です。
高集積化のためにトランジスタを縮小すると、スレショルド電圧が下がるんです。OFF時も完全にカットオフしてくれなくなって、電流がじょろじょろ漏れる、これがリーク電流。アイドル電流が常時大量に流れるので、発熱する

Re:メモリのリーク≠CPUのリーク

[attu (959)]

ロジック回路のトランジスタ部分（CPUね）とDRAMセルでは絶縁膜の厚み自体全然違ってます。
ゲート絶縁膜は厚み1nm程度なので今回の発見は関係ないでしょうね。

Re:メモリのリーク≠CPUのリーク

[bee (10028)]

なるほどー。 「OFF時も完全にカットオフしてくれなくなる」理由が結晶欠陥によるものなのかと思ってしまいました。