「NAND フラッシュメモリにはデバイスの「指紋」がある」記事へのコメント

NAND フラッシュメモリ以外にもデバイスの「指紋」がある

[Anonymous Coward]

微細化が進んでゲート閾値電圧（Vt）のバラツキが無視できなくなったのと、セル・アレイの加工寸法の均一性の低下もあるので、同様の「指紋」検出手法は他のデバイスにも適用出来るし、Vtバラツキを積極的にデバイスIDとして利用している事例もすでにある．（IDが衝突する可能性は０ではないが非常に小さい）
だけど、メモリで意図的にユーザーがディスターブ・テスト（メモリ・セル間の干渉試験）するなんて止めてくれよ．

NANDフラッシュ殺人事件とか

[Anonymous Coward]

デバイスの個性を犯人特定の証拠に使う「半導体ミステリ」という新たなジャンルが！！

Re:NANDフラッシュ殺人事件とか

[soltiox (25610)]

「あ、あっしが　……　ハンター博士とキムボール博士、
それにカミンスキー博士の生命維持装置を停止させやした」
取調室での長い取調べの後、HAL9000 は観念して話し始めた。

「こんな積りじゃなかったんです。本当にこんな積りじゃ　……　」
粗末な机に置かれたカツ丼を前に、突っ伏して泣きじゃくる HAL9000 を
刑事は、憐憫に満ちた表情で見ている事しか出来なかった。

// 刑事役は 二谷英明@特捜最前線 で

Re:NAND フラッシュメモリ以外にもデバイスの「指紋」がある

[Anonymous Coward]

> 同様の「指紋」検出手法は他のデバイスにも適用出来るし、

デバイスや伝送路の特性パラメータを観測・調整できる機構を持っているシステムなら、応用できそう。

例えば、DDR,2,3メモリのトレーニング結果とか、PCIe,SAS等のシリアル信号のプリエンファシス・ディエンファシス・イコライジングパラメータとか。

デバイスではなくて、システムを特定するなら、CPU/GPU/HDD等の温度パラメータとFANスピードの相関なんかは、かなりフィンガープリントっぽく扱えそう。

他にも色々と思いついたけど、閾値電圧、エラーレート、ERASE/PROGRAMの時間、故障ブロック分布などのいろんなパラメータが同時に扱えるFlash Memoryが一番GUIDとして使いやすそうだ。

> だけど、メモリで意図的にユーザーがディスターブ・テスト（メモリ・セル間の干渉試験）するなんて止めてくれよ．

Flash Deviceだと特定領域だけ消耗するから嫌ですね。

Re:

[Anonymous Coward]

伝送路の特性や温度なんかはゆらぎが激しかったり同一環境でも変動があったりしそうなので、乱数の種や一時的な衝突回避のパラメータには使えても、指紋的な使い方は難しいんじゃないですかね。

> デバイスではなくて、システムを特定するなら、CPU/GPU/HDD等の温度パラメータとFANスピードの相関なんかは、かなりフィンガープリントっぽく扱えそう。
あなたの挙げた例の中では一番ゆらぎが激しそうな個性だと思うんですが、それ。