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身近な人の偉大さは半減する -- あるアレゲ人
早期に不具合報告はいいねぇ (スコア:0)
でも、リリースして日が浅い時点での報告なので なぜもっと
販売前にもっとデバッグしなかったのかと思うのも確かです。
個人的にＭＳＩは好きです。
Re:早期に不具合報告はいいねぇ (スコア:3, 参考になる)
ロット不良？ (スコア:1, 参考になる)
「ダイパッド上の薄膜フィルムの除去が完全でなかったため」
が本当なら，ウェハー製造工程でのロット製造不良ですね．
（チップのカバー膜・保護膜のエッチング不良）
電気的にはLSIテスターでのファンクション・テストはパスして
しまって，部品実装後の動作テストでないとわからない嫌らしい
不良モードのようです．
でも，カバー膜のエッチング不良なんて，ウェハー製造工程での
（顕微鏡使った）目視検査で簡単に分かるはずのものなんです
けどねぇ． 工場関係者にとっては凄く恥ずかしい不良流出
ですよ．
Re:ロット不良？ (スコア:1, 参考になる)
普通は電源電流のテスト項目も有りますって、大抵の IC
テスタは普通に nA オーダー測れます(pA も少し高級機種
なら測定できます)。
ただ、測定時間がちと長めなのが問題かな。長く取らないと
正確に測れない。途中配線の容量成分のチャージが充電/放電
されて安定する必要があります。
Re:ロット不良？ (スコア:1, 参考になる)
す。身近な例では、製品レベルである条件で電源を入れてスクリーニン
グした、ってこともあります。で、結局スクリーニングするためには時
間がかかる、ってのはありがちなことです。
＃中には出荷されてから発覚して回収されたものもあるのでAC
Re:ロット不良？ (スコア:1)
>> 電気的にはLSIテスターでのファンクション・テストはパスして
>普通は電源電流のテスト項目も有りますって、
ファンクションテストに対応する電流テストは、入力・出力ピンでの
電流値の計測にあたるんではないでしょうか？
電源電流のテストでは、個々の出力・入力のピンの不具合は、かなり
顕著な故障でない限りはわからないですよ。
＃電源電流で見るのは基本的に内部回路のリーク状況のだと思います。
>ただ、測定時間がちと長めなのが問題かな。
>長く取らないと正確に測れない。
出力・入力PADの電流であれば、そう測定に時間はかかりませんが。
個々の信号ピンに対して計測するので、多ピンパッケージでは
ちと手間取りはしますがね。
>途中配線の容量成分のチャージが充電/放電されて安定する
>必要があります。
それは電源電流計測のときだけの話ですな。
あと、LSIテスタは基本的に接触抵抗まで計測するので、
記事中の「ダイパッド上の薄膜フィルムの除去が完全でなかったため」
なんてものは、テスト段階で見つかって当然の不良ですね。
そんなものが残っていたら、あっさりPAD表面の抵抗大という異常が上がって、
普通のLSI製造工場だったら不良品で落とされるはずです。
＃ベアチップで、保護フィルムに貼り付けられてボードメーカーに
＃出たんであれば、充分ありえる気もしますが・・・ボードを見る限りは
＃そういうモノでもなさそうですし・・・。
---- redbrick